產品描述
高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：最快0.5ms，測量值偏差0.07%
● 測量頻率：1MHz~1.3GHz
● 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
測量模式 | LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量 |
測量參數 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
測量頻率 | 1 MHz~1.3 GHz (設置分辨率100kHz) |
測量信號電平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
測量時間 | 最快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值） |
功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償 |
接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN |